Instituto Nacional de Engenharia de Superfcies


Artigos e Patentes

Laboratrio de Filmes Finos - Universidade Federal Fluminense (UFF)

Referncia

D.F. Franceschini, F.P. Pereira, D.M. Souza. New framework for structural characterization of a-C:H films from single-wavelength optical constants. 11th International Conference on advanced materials - ICAM 2009 - Rio de Janeiro, 2009.

Tipo
Trabalhos em conferncias internacionais
Grupo de pesquisa
Laboratrio de Filmes Finos - Universidade Federal Fluminense (UFF)
Coordenador
Prof. Dante Ferreira Franceschini Filho

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